Onunion 以众科技精密测量

以众科技

产品中心

精密测量

采用波前调制和迭代算法，可实现对波前复振幅分布进行高精度快速重建，进而实现光学元件、硅片、金属元件的面型检测或光学元件的相位透射率分布测量。同时，可提供先进的激光能量、时间波形、近场、远场、信噪比等参数测量的解决方案及相关仪器设备。
数字面型检测仪	数字波前检测仪	激光能量计